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WGJSTD-B數(shù)字式介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀是我公司一代通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制、測(cè)量核心，真正實(shí)現(xiàn)了Q值的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號(hào)源頻率都在一個(gè)液晶屏上展示出來(lái)，采用特制介質(zhì)損耗測(cè)試裝置和單位計(jì)算可以的計(jì)算出介質(zhì)損耗及介電常數(shù)，在你操作時(shí)，再也不用去注意量程和換算單位。
| 詳細(xì)介紹 |
本儀器的測(cè)試回路可用被測(cè)元件L、主調(diào)諧電容C、回路的損耗電阻R構(gòu)成的串聯(lián)電路來(lái)等效，當(dāng)測(cè)試回路諧振時(shí)（高頻信號(hào)源輸入信號(hào)的頻率為諧振頻率w0），主調(diào)電容上的電壓是信號(hào)源輸入電壓的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號(hào)源頻率w0的穩(wěn)定度和精度、主調(diào)電容C的精度和分辨率、測(cè)試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質(zhì)。模擬式的信號(hào)源穩(wěn)定性差，主調(diào)電容的分辨率和讀數(shù)精度低，使用復(fù)雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。 WGJSTD-B傳承*代WGJSTD-A數(shù)碼化、人性化設(shè)計(jì)理念，采用數(shù)字化主調(diào)電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數(shù)、DDS直接數(shù)字合成信號(hào)源三項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)，使WGJSTD-B的技術(shù)性能、使用功能大為提升,*改變了老款面板上印制的二組輔助表格計(jì)算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數(shù)清晰,無(wú)須換算，操作簡(jiǎn)便，特別適合電子元器件的質(zhì)量分析、品質(zhì)控制、科研生產(chǎn),也可用于高等院校的材料科學(xué)、電子信息、電子通信、等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器。
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